KEMS3260 ICP-OES laitetekniikka (2 op)
Opinnon taso:
Syventävät opinnot
Arviointiasteikko:
Hyväksytty - hylätty
Suorituskieli:
suomi
Vastuuorganisaatio:
Kemian laitos
Opetussuunnitelmakaudet:
2017-2018, 2018-2019, 2019-2020
Kuvaus
Sisältö
Käytännön ICP-OES –analytiikan harjoittelu. Mittausmetodin tekeminen, mittausparametrien optimointi, plasman robust olosuhteiden optimointi, erilaisten näytetaustojen vaikutus mittauksiin mm. valittaviin mittausaallonpituuksiin sekä sumutinkammioihin ja sumuttimiin. Spektraalihäiriöiden korjaus IEC ja MSF menetelmillä.
Suoritustavat
Luennot, demonstraatiot laboratoriossa ja loppuseminaari.
Arviointiperusteet
Luennoille osallistuminen, osallistuminen ryhmätyöskentelyyn laitedemonstraatioiden aikana sekä esitelmä loppuseminaarissa.
Osaamistavoitteet
Kurssin jälkeen opiskelija kykenee tekemään mittausmetodin ICP-OES –laitteelle. Opiskelija kykenee myös valitsemaan erilaisille näytteille sopivan näytteensyöttösysteemin sekä säätämään laiteparametrit sellaisiksi, että mittaustulos on luotettava. Opiskelija osaa myös laskea mittauksille toteamisrajan sekä määritysrajan. Tämän lisäksi opiskelija tietää miten spektraalihäiriöitä voidaan korjata.
Lisätietoja
Kurssi korvaa aiemman KEMS319 ICP-OES Workshop -kurssin.
Esitietojen kuvaus
Analyyttisten menetelmien syventävä kurssi (KEMS3240), uusiutuvien luonnonvarojen ja elinympäristön kemian syventävät harjoitustyöt (KEMS6800)
Oppimateriaalit
Luentomuistiinpanot
Suoritustavat
Tapa 1
Valitaan kaikki merkityt osat
Suoritustapojen osat
x
Julkaisematon arviointikohde