FYSS5456 Heliumionimikroskopia (1 op)
Opinnon taso:
Syventävät opinnot
Arviointiasteikko:
Hyväksytty - hylätty
Suorituskieli:
englanti, suomi
Vastuuorganisaatio:
Fysiikan laitos
Opetussuunnitelmakaudet:
2017-2018, 2018-2019, 2019-2020
Kuvaus
Sisältö
Heliumionimikroskoopin toimintaperiaate; heliumionimikroskoopin tärkeimmät edut perinteiseen pyyhkäisyelektronimikroskooppiin nähden (resoluutio, kyky kuvantaa eristeitä, työstäminen neon-suihkulla); heliumionimikroskoopin käytännön käyttö; näytteenvalmistus HIM-kuvantamiseen.
Suoritustavat
Keskustelu ja vuorovaikutteiset tilaisuudet, demotilaisuus, tentti.
Arviointiperusteet
Arvioinnin edellytyksenä on läsnäolo yhteisissä tapaamisissa ja demotilaisuudessa. Opintojakson suorittaminen edellyttää tentin hyväksyttyä läpäisyä.
Osaamistavoitteet
Opintojakson suoritettuaan opiskelija osaa esitellä heliumionimikroskoopin toimintaperiaatteen ja päätellä tämän perusteella tekniikan edut ja rajoitukset muihin mikroskopiatekniikoihin verrattuna. Opiskelija osaa arvioida ja perustella heliumionimikroskopian soveltuvuutta annettujen näytteiden kuvantamiseen (mm. biologiset näytteet, materiaalitieteen ja nanoteknologian näytteet). Hän hallitsee heliumionimikroskoopin periaatteet sekä käyttöönoton ja kuvantamisen vaiheet käytännössä siinä määrin, että hänet voidaan kouluttaa laitteen käyttöön lyhyessä ajassa.
Lisätietoja
Toteutetaan syksyllä 2017, jonka jälkeen tarvittaessa.
Kirjallisuus
- David C. Joy, Helium Ion Microscopy – Principles and Applications, ISBN 978-1-4614-8659-6.; ISBN: 978-1-4614-8659-6
Suoritustavat
Tapa 1
Valitaan kaikki merkityt osat
Suoritustapojen osat
x
Julkaisematon arviointikohde